互感器伏安特性綜合測試儀操作方法

一、互感器伏安特性綜合測試儀操作方式及主界面介紹

（一） 控制器使用方法

控制器有三種操作狀態(tài)："左旋"，"右旋"，"按下"。使用控制器的這三種操作可以方便的用來移動(dòng)光標(biāo)、輸入數(shù)據(jù)和選定項(xiàng)目等。

（二） 主菜單 （見圖2）

主菜單共有"勵(lì)磁"、"變比極性"、 "交流耐壓"、"一次通流" 、"數(shù)據(jù)查詢"、"退磁"、"返回"7種選項(xiàng)，可以使用控制器進(jìn)行選擇和設(shè)置。
圖2， CT主界面

二、CT測試

進(jìn)行電流互感器勵(lì)磁特性、變比、極性、一次通流、交流耐壓、退磁測試時(shí)，請(qǐng)移動(dòng)光標(biāo)至CT，并選擇相應(yīng)測試選項(xiàng)。

（一） CT勵(lì)磁特性測試

按"勵(lì)磁"鍵后，即進(jìn)入測試界面如圖3。
1）、參數(shù)設(shè)置： 勵(lì)磁電流：設(shè)置范圍（0—20A）為儀器輸出的最高設(shè)置電流，如果實(shí)驗(yàn)中電流達(dá)到設(shè)定值，將會(huì)自動(dòng)停止升流，以免損壞設(shè)備。通常電流設(shè)置值大于等于1A，就可以測試到拐點(diǎn)值。 勵(lì)磁電壓：設(shè)置范圍（0—1000V）為儀器輸出的最高設(shè)置電壓，通常電壓設(shè)置值稍大于拐點(diǎn)電壓，這樣可以使曲線顯示的比例更加協(xié)調(diào)，電壓設(shè)置過高曲線貼近Y軸，電壓設(shè)置過低，曲線貼近X軸。如果實(shí)驗(yàn)中電壓達(dá)到設(shè)定值，互感器伏安特性綜合測試儀將會(huì)自動(dòng)停止升壓，以免損壞設(shè)備。
2）、接線方式： 接線圖見（圖4），測試儀的K1、K2為電壓輸出端，試驗(yàn)時(shí)將K1、K2分別接互感器的S1、S2（互感器的所有端子的連線都應(yīng)斷開）。接線無誤后，合上"功率開關(guān)"，按"開始" 鍵后，即開始測試（見圖4）。 試驗(yàn)時(shí)，光標(biāo)在"停止"選項(xiàng)上，并不停閃爍，測試儀開始自動(dòng)升壓、升流，當(dāng)測試儀檢測完畢后，試驗(yàn)結(jié)束并描繪出伏安特性曲線圖（如圖5）。 注意：校準(zhǔn)功能：主要用于查看設(shè)備輸出電壓電流值，不用于測試項(xiàng)目，詳情見附錄一。 3）、伏安特性（勵(lì)磁）測試結(jié)果操作說明 試驗(yàn)結(jié)束后，屏幕顯示出伏安特性測試曲線（見圖5）。該界面上各操作功能如下：
打?。嚎刂破鬟x擇"打印"后，先后打印伏安特性（勵(lì)磁）曲線、數(shù)據(jù)，方便用戶做報(bào)告用。同時(shí)減少更換打印紙的頻率，節(jié)省時(shí)間，提高效率。
勵(lì)磁數(shù)據(jù)：將光標(biāo)移動(dòng)至"勵(lì)磁數(shù)據(jù)"選項(xiàng)選定，屏幕上將顯示伏安特性試驗(yàn)的測試數(shù)據(jù)列表（見圖6）。按下"返回"鍵即退回到伏安特性試驗(yàn)曲線界面，控制器即可實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)
的上下翻。當(dāng)頁面翻轉(zhuǎn)不動(dòng)時(shí)，則已到達(dá)最后一頁。
保存：控制器移動(dòng)至"保存"選項(xiàng)，按下即可將當(dāng)前所測數(shù)據(jù)保存，保存成功后，屏幕上顯示"保存完畢"。成功保存后，用戶如果再按下"保存"鍵，程序會(huì)自動(dòng)分辨，不保存相
同的測試記錄。并且可在數(shù)據(jù)查詢菜單中進(jìn)行查看。
誤差曲線：在圖5的界面中，將光標(biāo)移至"誤差曲線"選定后，屏上將顯示伏安特性試驗(yàn)的誤差曲線的設(shè)置（見圖7）。選定后計(jì)算出的誤差曲線如圖8。
打印設(shè)置：光標(biāo)移動(dòng)至此選項(xiàng)，按下即進(jìn)入打印設(shè)置界面（圖9），可根據(jù)要求選擇"默認(rèn)"設(shè)定需打印的電流值，或選擇"自定義"。
以下四項(xiàng)為誤差曲線計(jì)算時(shí)的設(shè)置項(xiàng)：
VA：CT二次側(cè)阻抗值。
I-sn ：CT的二次側(cè)額定電流
Kalf：限值系數(shù)，如：被測CT銘牌為"5P10"，"10"即為限制系數(shù)。
5%誤差曲線：自動(dòng)計(jì)算出5%誤差曲線數(shù)據(jù)并顯示誤差曲線。
10%誤差曲線：自動(dòng)計(jì)算出10%誤差曲線數(shù)據(jù)并顯示誤差曲線。
誤差曲線界面中有三個(gè)選項(xiàng)：
打印 ：可打印出誤差曲線圖及數(shù)據(jù)；
數(shù)據(jù) ：可顯示出誤差曲線相關(guān)數(shù)據(jù)，查看方式同伏安特性數(shù)據(jù)。
返回 ：可返回上一層菜單。
圖2， CT主界面

（二） 退磁試驗(yàn)

1）參數(shù)設(shè)置： 在CT主界面中，選擇"退磁"后，進(jìn)入測試界面見圖10，設(shè)置 二次側(cè)額定電流： 1A或5A。
2）試驗(yàn)： 接線圖見（圖4），測試儀的K1、K2為電壓輸出端，試驗(yàn)時(shí)將K1、K2分別接互感器的S1、S2（互感器的所有端子的連線都應(yīng)斷開）。檢查接線無誤后，合上功率開關(guān) 選擇"開始"選項(xiàng)，即開始退磁。
退磁過程中光標(biāo)在"測試"選項(xiàng)上不停閃爍，直至試驗(yàn)完畢，裝置會(huì)自動(dòng)停止，界面提示"退磁完畢"。

（三） CT變比極性試驗(yàn)

1）參數(shù)設(shè)置：測試界面見圖11。
一次側(cè)測試電流： 0 ～600A，測試儀P1、P2端子輸出的最大電流；
二次側(cè)額定電流： 1A或5A。
2）開始試驗(yàn)： 按照?qǐng)D12進(jìn)行接線，CT一次側(cè)接P1、P2，CT二次側(cè)接S1、S2。進(jìn)入CT"變比極性"測試界面，如圖11。設(shè)置完成后，合上"功率開關(guān)"，移動(dòng)光標(biāo)至"開始"選項(xiàng)，按下
控制器，試驗(yàn)即開始。 試驗(yàn)過程中光標(biāo)在"測試"選項(xiàng)上不停閃爍，直至試驗(yàn)完畢退出自動(dòng)測試界面，或按下控制器人為中止試驗(yàn)，裝置測試完畢后會(huì)自動(dòng)停止試驗(yàn)， 并顯示
變比極性測試結(jié)果。實(shí)驗(yàn)結(jié)束后可以選擇 "保存" 、"打印"及"返回"。
互感器伏安特性綜合測試儀本身的同色端子為同相端，即P1接CT的P1，S1接CT的S1時(shí)，極性的測試結(jié)果為減極性。

（四） CT一次通流試驗(yàn)

1）設(shè)置好通流電流0～600A，如圖13。
2）開始試驗(yàn)： 參照?qǐng)D14進(jìn)行 接線，CT一次側(cè)接P1、P2，CT二次側(cè)接S1、S2。設(shè)置好通流電流后，合上"功率開關(guān)"，移動(dòng)光標(biāo)至"開始"選項(xiàng)，按下控制器，試驗(yàn)即開始。電流保持時(shí)間以進(jìn)度條顯示(0～200A:保持5分鐘；大于200A～300A：保持2分鐘;大于300A：保持3秒鐘)。測試過程中，光標(biāo)會(huì)顯示在"測試"選項(xiàng)上不停閃爍，直至測試完畢自動(dòng)退出，或按下控制器人為中止測試。

（五） CT交流耐壓試驗(yàn)

1）參數(shù)設(shè)置：　 在CT主界面中，選擇"一次通流"后，進(jìn)入測試界面（圖15）， 設(shè)置好設(shè)定電壓值：0～1000V。
2）實(shí)驗(yàn)： 接線圖見圖16，被測CT二次側(cè)短接與測試儀電壓輸出口K2連接，電壓輸出口另一端K1連接互感器外殼。檢查接線完成后，合上功率開關(guān)，選擇 "開始"選項(xiàng)，按下即
開始升壓，電壓保持時(shí)間默認(rèn)為1分鐘，測試過程中，互感器伏安特性綜合測試儀內(nèi)部對(duì)互感器二次繞組與外殼之間的漏電流實(shí)時(shí)檢測，如果發(fā)現(xiàn)電流迅速增加，將會(huì)自動(dòng)回零，頁面會(huì)顯示"不合
格"。

三、數(shù)據(jù)查詢

    點(diǎn)擊數(shù)據(jù)查詢，進(jìn)入如圖17所示界面，根據(jù)需要選擇"勵(lì)磁"、"變比極性"、"角差比差"、返回"等測試選項(xiàng)，選定測試項(xiàng)目后，進(jìn)入圖18測試界面，顯示互感器伏安特性綜合測試儀中該項(xiàng)目下所保存的最新的測試結(jié)果。插上U盤，點(diǎn)擊"轉(zhuǎn)存"則會(huì)將當(dāng)前頁面下所顯示的測試記錄轉(zhuǎn)存進(jìn)入U(xiǎn)盤之中。每條記錄所用時(shí)間約2秒鐘。
警告：
1.在數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)存過程中，嚴(yán)禁拔出U盤，否則對(duì)U盤或設(shè)備造成永久性損壞。
2.U盤轉(zhuǎn)存文件時(shí)，U盤內(nèi)不應(yīng)有與測試儀內(nèi)需要轉(zhuǎn)存的文件同名的文件，否則此文件會(huì)轉(zhuǎn)存失敗。